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    <dcterms:title><![CDATA[<strong>Determinaci&oacute;n de plomo, mercurio, cromo, cadmio y cobre en algas</strong>]]></dcterms:title>
    <dcterms:subject><![CDATA[<strong>ALGAS</strong>]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[<strong>QUIMICA ANALITICA</strong>]]></dcterms:subject>
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    <dcterms:subject><![CDATA[<strong>MERCURIO (METAL)</strong>]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[<strong>CROMO</strong>]]></dcterms:subject>
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    <dcterms:subject><![CDATA[<strong>CONTAMINACION</strong>]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[<strong>TRAZAS DE METALES</strong>]]></dcterms:subject>
    <dcterms:publisher><![CDATA[Biblioteca-FQ]]></dcterms:publisher>
    <dcterms:date><![CDATA[1987]]></dcterms:date>
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    <dcterms:title><![CDATA[<strong>M&eacute;todos simples para determinaci&oacute;n de contaminantes ambientales</strong>]]></dcterms:title>
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    <dcterms:subject><![CDATA[CONTAMINANTES AMBIENTALES]]></dcterms:subject>
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    <dcterms:subject><![CDATA[BIBLIOGRAF&Iacute;A NACIONAL QU&Iacute;MICA]]></dcterms:subject>
    <dcterms:creator><![CDATA[<a title="curriculum" href="http://buscadores.anii.org.uy/buscador_sni/exportador/ExportarPdf?hash=06ea8350d5f6e14cde5d4fa22f5ff626" target="_blank"><strong>Ferreira, Fernando</strong></a>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Mart&iacute;nez, Jorge</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<a title="curriculum" href="http://buscadores.anii.org.uy/buscador_sni/exportador/ExportarPdf?hash=1424ef7476f5da983ef6cd034fcf13fe" target="_blank"><strong>Moyna, Patrick</strong></a>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:source><![CDATA[Toxicolog&iacute;a. v.1, 1986.-- p 85 - 97.]]></dcterms:source>
    <dcterms:source><![CDATA[Treinta a&ntilde;os de investigaci&oacute;n cient&iacute;fica : 1968-1998 / Patrick Moyna.&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp; &nbsp;<br /><br />]]></dcterms:source>
    <dcterms:date><![CDATA[1986]]></dcterms:date>
    <dcterms:rights><![CDATA[<h3>Derechos</h3>
<p><strong>Informaci&oacute;n sobre Derechos de Autor</strong></p>
<p>(Por favor lea este aviso antes de abrir los documentos u objetos)</p>
<p><strong>La legislaci&oacute;n uruguaya protege el derecho de autor</strong> sobre toda creaci&oacute;n literaria, cient&iacute;fica o art&iacute;stica, tanto en lo que tiene que ver con sus derechos morales, como en lo referente a los derechos patrimoniales con sujeci&oacute;n a lo establecido por el derecho com&uacute;n y las siguientes leyes (LEY 9.739 DE 17 DE DICIEMBRE DE 1937 SOBRE PROPIEDAD LITERARIA Y ARTISTICA CON LAS MODIFICACIONES INTRODUCIDAS POR LA LEY DE DERECHO DE AUTOR Y DERECHOS CONEXOS No. 17.616 DE 10 DE ENERO DE 2003, LEY 17.805 DE 26 DE AGOSTO DE 2004, LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006 LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006)</p>
<p><strong>ADVERTENCIA -</strong> La consulta de este documento queda condicionada a la aceptaci&oacute;n de las siguientes condiciones de uso: Este documento es &uacute;nicamente para usos privados enmarcados en actividades de investigaci&oacute;n y docencia. No se autoriza su reproducci&oacute;n con fines de lucro. Esta reserva de derechos afecta tanto los datos del documento como a sus contenidos. En la utilizaci&oacute;n o cita de partes debe indicarse el nombre de la persona autora.</p>]]></dcterms:rights>
    <dcterms:format><![CDATA[PDF]]></dcterms:format>
    <dcterms:format><![CDATA[Papel (en C&aacute;tedra de Farmacognosia)]]></dcterms:format>
    <dcterms:language><![CDATA[Espa&ntilde;ol]]></dcterms:language>
    <dcterms:type><![CDATA[Art&iacute;culo]]></dcterms:type>
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    <dcterms:title><![CDATA[<strong>Heavy metal doping of CdTe crystals.</strong>]]></dcterms:title>
    <dcterms:subject><![CDATA[METALES PESADOS]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[CRISTALOGRAFIA]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[BIBLIOGRAFIA NACIONAL QUIMICA]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[2004]]></dcterms:subject>
    <dcterms:abstract><![CDATA[CdTe crystals doped with several heavy metals (Hg, Tl, Pb, and Bi) in the concentration range of 1017-1018 at/cm3 have been grown by the vertical Bridgman method. The structural quality and uniformity of the crystals was verified by chemical determination of etch pits density and by X-ray rocking curves. Inductively coupled plasma-mass spectroscopy (ICP-MS) was employed for evaluating the dopant concentration and foreign impurities. Low-temperature photoluminescence (PL) measurements were performed on the crystals in the 1.2-1.6 eV energy range. The crystals electrical properties were studied by Hall and I-V measurements. (D-X) and (DAP) lines dominate the PL spectra for CdTe crystals, suggesting n-type conductivity and the presence of a compensation mechanism due to the heavy metal dopant incorporation. Investigating the 1.4 eV band, we obtained the Huang-Rhys parameter, the principal energy of zero phonon line and the energy of longitudinal optical phonon for each dopant. A particular PL line at 1.473 eV, correlated to MTe (M=heavy metal) defect centers, was found. It was found that the heavy metal-doped CdTe crystals have resistivity values in the range 108-1010 &Omega;&middot;cm, with maximum values for Bi- and Hg-doped materials. Also, these materials show a higher dark current stability than the ones doped with the other heavy metals. Only detectors made from Hg-doped crystals gave response to X and &gamma; radiation.]]></dcterms:abstract>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Saucedo, E</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<a title="Curriculum" href="http://buscadores.anii.org.uy/buscador_sni/exportador/ExportarPdf?hash=7b9bf747fb311cff42d0d079ef90c05f"><strong>Fornaro, Laura</strong></a>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Sochinski, N. V.</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Cuna, A</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Corregidor, V</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Granados, D</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Dieguez, E</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:source><![CDATA[IEEE Transact. Nucl. Sci. v. 51, no. 6 pt. 1, 2004. -- p. 3105-3110]]></dcterms:source>
    <dcterms:publisher><![CDATA[IEEE]]></dcterms:publisher>
    <dcterms:date><![CDATA[2004]]></dcterms:date>
    <dcterms:rights><![CDATA[<p><strong>Informaci&oacute;n sobre Derechos de Autor</strong></p>
<p>(Por favor lea este aviso antes de abrir los documentos u objetos)</p>
<p><strong>La legislaci&oacute;n uruguaya</strong> protege el derecho de autor sobre toda creaci&oacute;n literaria, cient&iacute;fica o art&iacute;stica, tanto en lo que tiene que ver con sus derechos morales, como en lo referente a los derechos patrimoniales con sujeci&oacute;n a lo establecido por el derecho com&uacute;n y las siguientes leyes</p>
<p>(LEY 9.739 DE 17 DE DICIEMBRE DE 1937 SOBRE PROPIEDAD LITERARIA Y ARTISTICA CON LAS MODIFICACIONES INTRODUCIDAS POR LA LEY DE DERECHO DE AUTOR Y DERECHOS CONEXOS No. 17.616 DE 10 DE ENERO DE 2003, LEY 17.805 DE 26 DE AGOSTO DE 2004, LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006 LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006)</p>
<p><strong>ADVERTENCIA</strong> - La consulta de este documento queda condicionada a la aceptaci&oacute;n de las siguientes condiciones de uso: Este documento es &uacute;nicamente para usos privados enmarcados en actividades de investigaci&oacute;n y docencia. No se autoriza su reproducci&oacute;n con fines de lucro. Esta reserva de derechos afecta tanto los datos del documento como a sus contenidos. En la utilizaci&oacute;n o cita de partes debe indicarse el nombre de la persona autora.</p>]]></dcterms:rights>
    <dcterms:format><![CDATA[PDF]]></dcterms:format>
    <dcterms:language><![CDATA[Ingl&eacute;s]]></dcterms:language>
    <dcterms:type><![CDATA[Art&iacute;culo]]></dcterms:type>
    <dcterms:identifier><![CDATA[DOI: 10.1109/TNS.2004.839076]]></dcterms:identifier>
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    <dcterms:title><![CDATA[<strong>Perspectives of the heavy metal halides family for direct and digital X-ray imaging.</strong>]]></dcterms:title>
    <dcterms:subject><![CDATA[RAYOS X]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[METALES PESADOS]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[IMAGENES DIGITALES]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[BIBLIOGRAFIA NACIONAL QUIMICA]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[2005]]></dcterms:subject>
    <dcterms:abstract><![CDATA[Films of heavy metal halides (mercuric iodide, lead iodide, bismuth tri-iodide, lead bromide, mercuric bromide and mercuric bromide-iodide), 1&rdquo; x 1&rdquo; and 2&rdquo; x 2&rdquo; in area, have been grown by physical vapor deposition onto alumina and glass substrates with conductive coatings. From the point of view of film growth the materials was found to have similar behavior, which was evaluated by studying grain size and texture of the films as a function of growth temperature. Films grow oriented with the (0 0 l) crystalline planes parallel or perpendicular to the substrate, according to X-ray diffraction. The influence of film orientation on electrical properties and on response to radiation was evaluated by measuring resistivity and response to X-rays. All the layers give good linearity of response to an X-ray beam. The sensitivity of the layers (signal to dark relation / exposure rate) is maximum (1380) for mercuric iodide. For all the materials, the more oriented the films, the lowest the dark current, and the higher the sensitivity and the signal/dark relation. A superior correlation between electrical and response properties and the layer orientation can be deduced for films of the family of heavy metal halides, observed as a whole.]]></dcterms:abstract>
    <dcterms:creator><![CDATA[<a title="Curriculum" href="http://buscadores.anii.org.uy/buscador_sni/exportador/ExportarPdf?hash=7b9bf747fb311cff42d0d079ef90c05f"><strong>Fornaro, Laura</strong></a>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Aguiar, I</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Noguera, A</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>P&eacute;rez, M</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Sasen, M</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:creator><![CDATA[<strong>Mussio, L</strong>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:source><![CDATA[IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record v. 2, no. 1596395, 2005. -- p. 878-881]]></dcterms:source>
    <dcterms:publisher><![CDATA[IEEE]]></dcterms:publisher>
    <dcterms:date><![CDATA[2005]]></dcterms:date>
    <dcterms:rights><![CDATA[<p><strong>Informaci&oacute;n sobre Derechos de Autor</strong></p>
<p>(Por favor lea este aviso antes de abrir los documentos u objetos)</p>
<p><strong>La legislaci&oacute;n uruguaya</strong> protege el derecho de autor sobre toda creaci&oacute;n literaria, cient&iacute;fica o art&iacute;stica, tanto en lo que tiene que ver con sus derechos morales, como en lo referente a los derechos patrimoniales con sujeci&oacute;n a lo establecido por el derecho com&uacute;n y las siguientes leyes</p>
<p>(LEY 9.739 DE 17 DE DICIEMBRE DE 1937 SOBRE PROPIEDAD LITERARIA Y ARTISTICA CON LAS MODIFICACIONES INTRODUCIDAS POR LA LEY DE DERECHO DE AUTOR Y DERECHOS CONEXOS No. 17.616 DE 10 DE ENERO DE 2003, LEY 17.805 DE 26 DE AGOSTO DE 2004, LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006 LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006)</p>
<strong>ADVERTENCIA</strong> - La consulta de este documento queda condicionada a la aceptaci&oacute;n de las siguientes condiciones de uso: Este documento es &uacute;nicamente para usos privados enmarcados en actividades de investigaci&oacute;n y docencia. No se autoriza su reproducci&oacute;n con fines de lucro. Esta reserva de derechos afecta tanto los datos del documento como a sus contenidos. En la utilizaci&oacute;n o cita de partes debe indicarse el nombre de la persona autora.]]></dcterms:rights>
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    <dcterms:language><![CDATA[Ingl&eacute;s]]></dcterms:language>
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    <dcterms:identifier><![CDATA[Doi: 10.1109/NSSMIC.2005.1596187]]></dcterms:identifier>
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    <dcterms:title><![CDATA[<strong>State of the art of the heavy metal iodides as photoconductors for digital imaging</strong>]]></dcterms:title>
    <dcterms:subject><![CDATA[METALES PESADOS]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[FOTOCONDUCTORES]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[BIBLIOGRAFIA NACIONAL QUIMICA]]></dcterms:subject>
    <dcterms:subject><![CDATA[2013]]></dcterms:subject>
    <dcterms:abstract><![CDATA[The currentstatusofthedevelopmentoftheheavymetaliodidesasphotoconductorsfordirectand digitalimagingisreviewed.Thephysicalpropertiesofthesematerialsarefirstsummarizedasregards their applicationasphotoconductorsandthegrowthoftheirlayersontoreadoutmatrixesfordigital imaging.Acomparisonoftheresultsobtainedforpolycrystallineandorientedlayersofmercuric iodide,leadiodideandbismuthtri-iodide,grownbyPhysicalVaporDeposition(PVD),ispresented.The three materialswerefoundtohavesimilarbehavior;theinfluenceoflayersorientationonelectrical propertiesandonresponsetoradiationisalsoevaluated.Thebestresults(DQE,MTF,andactual images) reportedfordevicesmadewithmercuricandleadiodidelayersgrownontoTFTandCMOSare remarked,anddeviceperformanceiscomparedwiththeoneofalternativematerialssuchasa-Seand CdTe. Perspectivesofthefieldsuchasusingnanostructuresasprecursorsforgrowingepitaxiallayers, and possiblefutureresearch,arealsopresented]]></dcterms:abstract>
    <dcterms:creator><![CDATA[<a title="Curr&iacute;culum Vitae" href="http://buscadores.anii.org.uy/buscador_sni/exportador/ExportarPdf?hash=7b9bf747fb311cff42d0d079ef90c05f" target="_blank"><strong>Fornaro, Laura</strong></a>]]></dcterms:creator>
    <dcterms:source><![CDATA[Journal of Crystal Growth v. 371, 2013. -- p. 155-162]]></dcterms:source>
    <dcterms:publisher><![CDATA[Elsevier]]></dcterms:publisher>
    <dcterms:date><![CDATA[2013]]></dcterms:date>
    <dcterms:rights><![CDATA[<p align="LEFT"><strong>Informaci&oacute;n sobre Derechos de Autor</strong></p>
<p>(Por favor lea este aviso antes de abrir los documentos u objetos)</p>
<p><strong>La legislaci&oacute;n uruguaya</strong> protege el derecho de autor sobre toda creaci&oacute;n literaria, cient&iacute;fica o art&iacute;stica, tanto en lo que tiene que ver con sus derechos morales, como en lo referente a los derechos patrimoniales con sujeci&oacute;n a lo establecido por el derecho com&uacute;n y las siguientes leyes</p>
<p>(LEY 9.739 DE 17 DE DICIEMBRE DE 1937 SOBRE PROPIEDAD LITERARIA Y ARTISTICA CON LAS MODIFICACIONES INTRODUCIDAS POR LA LEY DE DERECHO DE AUTOR Y DERECHOS CONEXOS No. 17.616 DE 10 DE ENERO DE 2003, LEY 17.805 DE 26 DE AGOSTO DE 2004, LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006 LEY 18.046 DE 24 DE OCTUBRE DE 2006)</p>
<p style="margin-bottom: 0cm;"><strong>ADVERTENCIA</strong> - La consulta de este documento queda condicionada a la aceptaci&oacute;n de las siguientes condiciones de uso: Este documento es &uacute;nicamente para usos privados enmarcados en actividades de investigaci&oacute;n y docencia. No se autoriza su reproducci&oacute;n con fines de lucro. Esta reserva de derechos afecta tanto los datos del documento como a sus contenidos. En la utilizaci&oacute;n o cita de partes debe indicarse el nombre de la persona autora.</p>]]></dcterms:rights>
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